| Title | 基于拟蒙特卡罗和强制探测的校正CT散射信号的方法 |
| Author | |
| First Inventor | 林桂元
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| Original applicant | 清华大学
; 南方科技大学
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| First applicant | 清华大学
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| Address of First applicant | 100084 北京市海淀区清华园
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| Current applicant | 清华大学
; 南方科技大学
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| Address of Current applicant | 100084 北京市海淀区清华园 (北京,北京,海淀区)
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| First Current Applicant | 清华大学
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| Address of First Current Applicant | 100084 北京市海淀区清华园 (北京,北京,海淀区)
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| Application Number | CN202111107623.5
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| Application Date | 2021-09-22
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| Open (Notice) Number | CN113804709B
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| Date Available | 2022-08-12
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| Publication Years | 2022-08-12
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| Status of Patent | 授权
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| Legal Date | 2022-08-12
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| Subtype | 授权发明
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| SUSTech Authorship | Others
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| Abstract | 本发明实施例公开了一种基于拟蒙特卡罗和强制探测的校正CT散射信号的方法，包括：模拟光子从X射线源S通过被测物体M到达探测器D的散射信号；将每个探测器像素检测到的信号减去模拟得到的散射信号与预设系数的乘积，根据差值确定穿过被测模体M后的X射线信号。通过计算光子理论上发生散射的概率，把QMC方法的优势和强制固定探测(FFD)技术结合起来，能够准确地得到探测器探测到的光子的散射信号，从而实现对探测器探测到的X射线的散射信号的校正。 |
| Other Abstract | 本发明实施例公开了一种基于拟蒙特卡罗和强制探测的校正CT散射信号的方法，包括：模拟光子从X射线源S通过被测物体M到达探测器D的散射信号；将每个探测器像素检测到的信号减去模拟得到的散射信号与预设系数的乘积，根据差值确定穿过被测模体M后的X射线信号。通过计算光子理论上发生散射的概率，把QMC方法的优势和强制固定探测(FFD)技术结合起来，能够准确地得到探测器探测到的光子的散射信号，从而实现对探测器探测到的X射线的散射信号的校正。 |
| IPC Classification Number | G01N23/046
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| INPADOC Legal Status | （ENTRY INTO FORCE OF REQUEST FOR SUBSTANTIVE EXAMINATION）[2022-01-04][CN]
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| INPADOC Patent Family Count | 1
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| Extended Patent Family Count | 1
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| Patent Agent | 石辉
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| Agency | 北京汇智胜知识产权代理事务所(普通合伙)
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| URL | [Source Record] |
| Data Source | PatSnap
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| Document Type | Patent |
| Identifier | http://kc.sustech.edu.cn/handle/2SGJ60CL/376468 |
| Department | National Center for Applied Mathematics, SUSTech Shenzhen |
| Recommended Citation GB/T 7714 |
林桂元,王小群,邓世沃. 基于拟蒙特卡罗和强制探测的校正CT散射信号的方法[P]. 2022-08-12.
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