| Title | AR几何光波导重影标定方法、装置、设备和介质 |
| Author | |
| First Inventor | 王书龙
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| Original applicant | 南方科技大学
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| First applicant | 南方科技大学
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| Address of First applicant | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号
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| Current applicant | 南方科技大学
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| Address of Current applicant | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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| First Current Applicant | 南方科技大学
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| Address of First Current Applicant | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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| Application Number | CN202211266972.6
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| Application Date | 2022-10-17
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| Open (Notice) Number | CN115343023B
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| Date Available | 2023-01-20
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| Publication Years | 2023-01-20
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| Status of Patent | 授权
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| Legal Date | 2023-01-20
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| Subtype | 授权发明
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| SUSTech Authorship | First
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| Abstract | 本发明实施例提供AR几何光波导重影标定方法、装置、设备和介质，涉及光学测量领域。AR几何光波导重影标定方法结合不同显示单元的结构相关参数显示水平视场角和测量阵列面的光学参数值得到与显示单元相关的单像素视场角，然后根据测量阵列面的角度偏移值和对应的单像素视场角得到该显示单元对应的像素偏移值。即本实施例中标定的是几何光波导的光学阵列面的平行度引起的显示单元的显示像素变化，能够直观地标定显示单元的画面重影程度，可以结合显示单元的分辨率与像素偏移值判断重影对画面显示的影响程度。并且进一步地，像素偏移值能够反应光波导的生产工艺性能，便于提升几何光波导量产的效率和工艺性能。 |
| Other Abstract | 本发明实施例提供AR几何光波导重影标定方法、装置、设备和介质，涉及光学测量领域。AR几何光波导重影标定方法结合不同显示单元的结构相关参数显示水平视场角和测量阵列面的光学参数值得到与显示单元相关的单像素视场角，然后根据测量阵列面的角度偏移值和对应的单像素视场角得到该显示单元对应的像素偏移值。即本实施例中标定的是几何光波导的光学阵列面的平行度引起的显示单元的显示像素变化，能够直观地标定显示单元的画面重影程度，可以结合显示单元的分辨率与像素偏移值判断重影对画面显示的影响程度。并且进一步地，像素偏移值能够反应光波导的生产工艺性能，便于提升几何光波导量产的效率和工艺性能。 |
| IPC Classification Number | G01M11/02
; G02B6/10
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| INPADOC Legal Status | （ENTRY INTO FORCE OF REQUEST FOR SUBSTANTIVE EXAMINATION）[2022-12-02][CN]
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| INPADOC Patent Family Count | 1
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| Extended Patent Family Count | 1
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| Priority date | 2022-10-17
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| Patent Agent | 洪铭福
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| Agency | 广州嘉权专利商标事务所有限公司
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| URL | [Source Record] |
| Data Source | PatSnap
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| Document Type | Patent |
| Identifier | http://kc.sustech.edu.cn/handle/2SGJ60CL/428481 |
| Department | Department of Electrical and Electronic Engineering |
| Recommended Citation GB/T 7714 |
王书龙,孙小卫,菲利普·安东尼·苏尔曼. AR几何光波导重影标定方法、装置、设备和介质[P]. 2023-01-20.
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