| Title | 微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质 |
| Author | |
| First Inventor | 刘召军
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| Original applicant | 南方科技大学
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| First applicant | 南方科技大学
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| Address of First applicant | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号
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| Current applicant | 南方科技大学
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| Address of Current applicant | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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| First Current Applicant | 南方科技大学
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| Address of First Current Applicant | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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| Application Number | CN202010935778.7
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| Application Date | 2020-09-08
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| Open (Notice) Number | CN112097911B
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| Date Available | 2023-01-24
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| Publication Years | 2023-01-24
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| Status of Patent | 授权
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| Legal Date | 2023-01-24
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| Subtype | 授权发明
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| SUSTech Authorship | First
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| Abstract | 本发明实施例公开了一种微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质。该方法包括：获取微型LED阵列在正常工作下的最低平均温度和最高平均温度；根据最低平均温度下的发光光谱确定在最低平均温度和预设最高温度之间多个测试温度对应的光谱参数；根据光谱参数确定对应的每个测试温度下与最低平均温度下微型LED阵列显示的色差，并建立色差与温度之间的对应关系；根据对应关系以及最高平均温度对微型LED阵列的热稳定性进行判定。本发明实施例所提供的技术方案，实现了简单并准确的对微型LED阵列的热稳定性进行分析，节约了研究时间并降低了研究成本。 |
| Other Abstract | 本发明实施例公开了一种微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质。该方法包括：获取微型LED阵列在正常工作下的最低平均温度和最高平均温度；根据最低平均温度下的发光光谱确定在最低平均温度和预设最高温度之间多个测试温度对应的光谱参数；根据光谱参数确定对应的每个测试温度下与最低平均温度下微型LED阵列显示的色差，并建立色差与温度之间的对应关系；根据对应关系以及最高平均温度对微型LED阵列的热稳定性进行判定。本发明实施例所提供的技术方案，实现了简单并准确的对微型LED阵列的热稳定性进行分析，节约了研究时间并降低了研究成本。 |
| CPC Classification Number | G01J3/46
; G01M11/02
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| IPC Classification Number | G01J3/46
; G01M11/02
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| INPADOC Legal Status | （ENTRY INTO FORCE OF REQUEST FOR SUBSTANTIVE EXAMINATION）[2021-01-05][CN]
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| INPADOC Patent Family Count | 1
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| Extended Patent Family Count | 1
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| Priority date | 2020-09-08
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| Patent Agent | 潘登
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| Agency | 北京品源专利代理有限公司
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| URL | [Source Record] |
| Data Source | PatSnap
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| Document Type | Patent |
| Identifier | http://kc.sustech.edu.cn/handle/2SGJ60CL/429113 |
| Department | Department of Electrical and Electronic Engineering |
| Recommended Citation GB/T 7714 |
刘召军,冯玚,卢博. 微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质[P]. 2023-01-24.
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