Title | 一种光学微腔结构、制造方法及测量方法 |
Alternative Title | Optical microcavity structure, manufacturing method and measuring method
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Author | |
First Inventor | 陈树明
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Original applicant | 南方科技大学
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First applicant | 南方科技大学
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Address of First applicant | 518000 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号
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Current applicant | 南方科技大学
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Address of Current applicant | 518000 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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First Current Applicant | 南方科技大学
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Address of First Current Applicant | 518000 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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Application Number | CN201610632873.3
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Application Date | 2016-08-04
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Open (Notice) Number | CN106352805A
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Date Available | 2017-01-25
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Status of Patent | 驳回
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Legal Date | 2020-04-10
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Subtype | 发明申请
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SUSTech Authorship | First
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Abstract | 本发明公开了一种用于测量光学薄膜厚度的光学微腔结构、制造方法及测量方法,其中一种光学微腔结构,包括全反射层,所述全反射层承载于一衬底之上;待测薄膜层,设置于所述反射层表面;半反射膜层,设置于所述待测薄膜层表面。本申请中,通过半反射层与待测薄膜层的接触表面形成第一介质分界面,待测薄膜层与全发射膜层的接触表面形成第二介质分界面。入射光在第一介质分界面与第二介质分界面之间来回反复反射,一束光线通过第一介质分界面、第二介质分界面形成多束用以产生干涉效应的光线,使得反射谱上呈现出较明显的尖锐干涉峰,有利于在后续测量过程中,能够较准确地实现光谱拟合,提高待测薄膜厚度测量准确度。 |
Other Abstract | 本发明公开了一种用于测量光学薄膜厚度的光学微腔结构、制造方法及测量方法,其中一种光学微腔结构,包括全反射层,所述全反射层承载于一衬底之上;待测薄膜层,设置于所述反射层表面;半反射膜层,设置于所述待测薄膜层表面。本申请中,通过半反射层与待测薄膜层的接触表面形成第一介质分界面,待测薄膜层与全发射膜层的接触表面形成第二介质分界面。入射光在第一介质分界面与第二介质分界面之间来回反复反射,一束光线通过第一介质分界面、第二介质分界面形成多束用以产生干涉效应的光线,使得反射谱上呈现出较明显的尖锐干涉峰,有利于在后续测量过程中,能够较准确地实现光谱拟合,提高待测薄膜厚度测量准确度。 |
CPC Classification Number | G01B11/0675
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IPC Classification Number | G01B11/06
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INPADOC Legal Status | (-REJECTION OF INVENTION PATENT APPLICATION AFTER PUBLICATION)[2020-04-10][CN]
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INPADOC Patent Family Count | 1
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Extended Patent Family Count | 1
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Priority date | 2016-08-04
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Patent Agent | 孟金喆
; 胡彬
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Agency | 北京品源专利代理有限公司
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URL | [Source Record] |
Data Source | PatSnap
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Document Type | Patent |
Identifier | http://kc.sustech.edu.cn/handle/2SGJ60CL/531984 |
Department | Department of Electrical and Electronic Engineering |
Recommended Citation GB/T 7714 |
陈树明,冯渊翔,王为高. 一种光学微腔结构、制造方法及测量方法.
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